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光学剖面仪- ContourGT- K0,布鲁克

profiler

光学剖面仪是一种多功能的表面三维成像仪器。利用光学干涉测量原理测量地物高度,分辨率优于0.1 nm。Vision-64分析软件允许在短时间内创建大面积样品的三维图像,并测量截面轮廓和确定表面粗糙度。这种光学方法是非接触的,可以用于不完全透明的材料。该仪器也可用于膨胀测量。

轮廓GT-KO的规格和能力

  • 垂直分辨率<0.01nm, RMS重复性0.01nm,横向分辨率0.38µm
  • 最大扫描尺寸10毫米,样品级150毫米。
  • 最大样品高度100mm
  • 最大扫描速度47μm/sec
  • 样品反射率0.05%-100%
  • 可互换变焦和干涉透镜
  • 光学计量:专利双led照明
  • Vision64分析软件支持Windows 7 64位操作系统
  • 软件具有拼接功能,可合并多个测量值。
  • 系统安装在30“x30”防震台上。

 

用户率

费率将基于每小时或每个样本的基础上,并将与客户协商后决定。

仪器使用每小时收费

辅助使用:$20/小时*


培训要求:25美元/小时。


自用:10美元/小时。


消耗品按成本价收费。

样本数据

Sample Data
  • University of New Orleans Logo
  • 新奥尔良湖滨大道2000号,LA 70148
  • 888-514-4275
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